產品詳情
全新銀漿（爬膠）高度45度檢測系統集多項創新于一身，從外觀到性能都緊跟國際領先設計風向，致力于拓展工業領域新格局。秉承不斷探索、不斷超越的品牌設計理念，為客戶提供完善的工業檢測解決方案。
銀漿（爬膠）高度45度檢測系統是半導體銀漿silver paste高度專業檢測儀器，也稱之為銀漿厚度檢測儀；在半導體芯片加工中，需要對芯片die中的晶圓wafe進行銀漿固定，這就需要對固定工藝進行檢測，已判斷銀漿的高度或厚度是否達到指定的技術指標；此系列檢測儀是此工藝專業檢測儀器，通過顯微鏡非接觸圖像識別的方式進行觀察及量測，配專業相機、軟件及固定治具；快速有效的檢測此工藝技術指標；此系列產品還廣泛用于PCB行業、LED封裝行業、金屬行業、材料加工行業等；
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產品名稱 |
產品主要組成配置 |
產品主要組成配置型號 |
相關參數 |
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銀漿（爬膠）高度45度檢測系統
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高清精密卡位鏡體 |
OMT-10D |
攝像接口1X；光學刻度倍數0.7~4.5X |
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高清圖像采集系統 |
OMT-630CF |
有效像素數字600萬；分辨率3072*2048 |
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圖像編輯及測量系統 |
OMT-1.5D |
功能：觀察、拍照存儲、錄像、自動尋邊、量測、數據導出、掃描上傳、景深融合、大圖拼接、支持開發對接上傳MES等功能 |
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照明系統 |
OMT-60系列 |
長壽命、LED、冷光源、亮度可調 |
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固定調節機構 |
圓形樣品臺 |
XY 兩軸可調平臺架以及一個 300mm 直徑，可 360 度旋轉的圓形平臺 |
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電腦主機 |
戴爾商務主機 |
戴爾商務主機 |
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高清液晶顯示器 |
21.5或24英寸以上屏幕 |
HMDI/VGA 1920*1080 |
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數字高清連接線 |
USB3.0數據線 |
高清接口，USB3.0 |
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尺寸標定板 |
圖像尺寸校正片 |
厘米、毫米校正尺 |
相關服務 /service
地區產品/CITY
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173-1582-5640
公司地址：蘇州市工業園區勝浦路258號26棟廠房
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