產品詳情
芯片銀漿厚度測量儀/銀漿爬坡檢測儀/芯片銀漿厚度測量儀/銀漿Silver Paste高度測試儀/銀漿爬坡45度 常州測量顯微鏡 /銀漿高度測量系統/銀漿爬坡檢測儀/斜視測量儀芯片銀漿厚度測量儀/銀漿爬坡檢測儀/芯片銀漿厚度測量儀/銀漿Silver Paste高度測試儀/銀漿爬坡45度 常州測量顯微鏡 /銀漿高度測量系統/銀漿爬坡檢測儀/斜視測量儀
全新二代銀漿（爬膠）高度測量儀 MT-F2000 集多項創新于一身，從外觀到性能都緊跟國際領先設計風向，致力于拓展工業領域新格局。秉承不斷探索、不斷超越的品牌設計理念，為客戶提供完善的工業檢測解決方案。
銀漿（爬膠）高度 45度檢測系統是半導體銀漿silver paste高度專業檢測儀器，也稱之為銀漿厚度檢測儀；在半導體芯片加工中，需要對芯片die中的晶圓wafe進行銀漿固定，這就需要對固定工藝進行檢測，已判斷銀漿的高度或厚度是否達到指定的技術指標；此系列檢測儀是此工藝專業檢測儀器，通過顯微鏡非接觸圖像識別的方式進行觀察及量測，配專業相機、軟件及固定治具；快速有效的檢測此工藝技術指標 。
MT-F2000 系列 爬膠高度測量儀 主要用于半導體、 led 封裝行業，上芯后銀漿爬芯的高度， 銀漿溢出（ Fillet Height ） 以及占比的測量。通過軟件軟體功能提供客制化相關檢測項目、檢測數據存儲、檢索和管理 。
MT-F2000 系列 爬膠高度測量儀 ，采用九游会上等光學系統，具有低畸變，高分辨率，大景深，市場寬大且平坦，齊焦性好等特點，設計新穎，操作簡便。可手動切換觀察角度，觀察工作距離高達 82 mm，方便取放產品。
MT-F2000 系列 爬膠高度測量儀 ，全程齊焦，圖像清晰， 40-270 倍連續變倍 。
MT-F2000 系列 爬膠高度測量儀 擁有人性化的操作體驗，用戶在調焦 和變倍 過程中，可將手肘完全放在工作臺上，優化操作手感。
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型號 |
OMT-F2000 配置 |
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光學系統 |
2D 齊焦齊心定格定倍 光學系統 |
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光學放大倍數 |
0.7 倍 - 4.5 倍 |
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數碼放大倍數 |
40 倍 - 270 倍（ 23.8 寸顯示器） |
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高清 圖像處理系統 |
1200 萬 1/ 2 寸彩色索尼工業芯片 ，高靈敏度、低噪聲 SENSOR ，性能強大，預覽流暢； |
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像元尺寸： 3.75um*3.75um / 數據位數 ： 12bit 逐行曝光 |
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分辨率： 4000*3000 |
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輸出接口 |
USB3.0 數據輸出接口 |
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拍照 |
拍照（鼠標拍照存儲在 U 盤） |
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測量 |
全新測量系統 |
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觀察 角度 |
45 度 |
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光源 |
OMT-60X 長壽命可調亮度 LED 光源 |
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夾式可調 LED 冷光源，單顆射燈 |
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支架 |
8 英寸 載物臺 ，平臺面積 300 * 270 mm ，移動行程： 200 mmX 200 mm 機械平臺， X 、 Y 方向同軸調節； |
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8 英寸 平臺 ，平臺面積 525*330mm ，移動行程： 210mmX210mm 機械平臺， X 、 Y 方向同軸調節；含快速移動裝置 （ 型號： MT-F2000-PRO ） |
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電腦 |
主流品牌臺式電腦主機 |
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顯示器 |
23.8 寸高清 HDMI 液晶顯示器分辨率 1920*1080 |
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標尺 |
高精度型測微尺，格值 0.01mm |
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